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大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1200A-MT 華科智源IGBT電參數(shù)測試儀，可用于多種封裝形式的IGBT的測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊、大功率IGBT、大功率雙極型晶體管等器件的VI特性測試，廣泛應(yīng)用于軌道交通，電動(dòng)汽車，風(fēng)力發(fā)電，焊機(jī)行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析。測試過程簡單，既可以在測試主機(jī)里設(shè)置參數(shù)直接測試，又可以通過軟件控制主機(jī)編程后進(jìn)行自動(dòng)測試。

IGBT雙脈沖測試平臺(tái)PT-1224 該設(shè)備用于功率半導(dǎo)體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動(dòng)態(tài)參數(shù)測試，以表征器件的動(dòng)態(tài)特性，通過特制測試夾具的連接，實(shí)現(xiàn)模塊的動(dòng)態(tài)參數(shù)測試 品牌： 華科智源 名稱： 雙脈沖測試平臺(tái) 用途： 測試動(dòng)態(tài)參數(shù)

IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀HUSTEC-1600A-MT華科智源功率器件測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數(shù)，并生產(chǎn)器件傳輸曲線和轉(zhuǎn)移曲線，測試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣泛應(yīng)用于器件設(shè)計(jì)，封裝測試，軌道交通，電動(dòng)汽車 ，風(fēng)力發(fā)電，變頻器，焊機(jī)等行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析。

博達(dá)微FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備，在一個(gè)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、脈沖式 IV 測試、任意線性波形發(fā)生與測量、高速時(shí)域信號(hào)釆集以及低頻噪聲測試能力。

吉時(shí)利全自動(dòng)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200A-SCS參數(shù)分析儀加快各類材料、半導(dǎo)體器件和*工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能電學(xué)特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測試(I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試(C-V曲線測試)和超快脈沖I-V曲線測量。

LET-2000D力鈦科（Letak）半導(dǎo)體靜動(dòng)態(tài)測試系統(tǒng)是滿足IEC60747-8/9、JESD24標(biāo)準(zhǔn)，旨在幫助工程師解決器件驗(yàn)證、器件參數(shù)評(píng)估、驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)等需要的場合。特別對(duì)于應(yīng)用第三代半導(dǎo)體的需要，有著較高的系統(tǒng)帶寬，可以有效的測量出實(shí)際的器件參數(shù)。

同惠TH511半導(dǎo)體C-V特性分析儀TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀是同惠電子針對(duì)半導(dǎo)體材料及器件生產(chǎn)與研發(fā)的分析儀器。 TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說明及幫助等新一代技術(shù)，適用于生產(chǎn)線快速分選、自動(dòng) 化集成測試及滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)及分析。