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歐林巴斯OLS5100 3D激光掃描顯微鏡適用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光顯微鏡將測量精度和光學性能與智能工具相結合，讓顯微鏡更加方便使用。通過快速高效精確測量亞微米級形狀和表面粗糙度的可靠數據簡化您的工作流程。

自動光譜橢偏儀SENDUROSENDURO® 可測量透明和反射基片上單層薄膜和層疊膜的折射率和厚度。SENDURO® 自動掃描則實現了較高的樣品速度，化安裝工作量和低的維護成本。該光譜橢偏儀的自動掃描具有預定義或用戶定義的模式、允許廣泛的統計特性和數據圖形顯示。

安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀橢偏振動光譜 利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。

安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結合，可以輕易地確定單層膜和復合層疊膜的厚度和折射率。

安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀 SENresearch 4.0 光譜橢偏儀覆蓋寬的光譜范圍，從190 nm（深紫外）到3500 nm（近紅外）。傅立葉紅外光譜儀FTIR提供了高光譜分辨率用以分析厚度高達200μm的厚膜。

布魯克S8 TIGER Series 2 X射線熒光光譜儀無論是固體還是液體樣品，在工業環境中都能快速，符合人體工程學的安全處理樣品。

布魯克HD9800工業光學顯微鏡HD9800是專門用于硬盤行業磁頭滑塊測量的*的光學輪廓儀，用于對CCT和PTR的高速自動測量，監控其復雜的加工工藝是否正常。

布魯克ContourSP三維工業光學顯微鏡ContourSP大面板計量系統擁有十多年的包裝計量專業知識，是上一代SP型號的高密度互連PCB（HDI-PCB）基板的測量吞吐量的兩倍以上。ContourSP專為在制造過程中測量PCB板的每一層而設計，并具有許多*功能，可為半導體封裝行業提供高的生產性能，便利性，可靠性和吞吐量。